inTEST 時鐘晶片高低溫衝擊測試應用
inTEST 時鐘晶片高低溫衝擊測試應用
某研發生產高性能時鐘晶片企業, 通過伯東公司推薦, 選用美國 inTEST ATS-545-M 與其測試設備搭配, 為分析時鐘晶片的各項特性, 提供快速可靠的溫度環境. 助力企業填補了國內時鐘領域的技術空白, 打破國外技術壁壘, 實現 5G 通訊時鐘關鍵器件的國產化.
時鐘晶片需要高低溫衝擊測試
時鐘晶片, 也叫時鐘電路, 是可以產生像時鐘一樣準確運動的振盪電路. 組成時鐘電路的部件一般包括晶震控制晶片, 晶體振盪器和電容組成. 時鐘晶片計時精度誤差源於晶體振盪電路的頻率誤差, 而晶體振盪頻率都會受到環境溫度影響, 比如時鐘晶片在溫度驟降情況下, 晶體的頻率會有一個很大的變化, 所以需要對不同溫度下時鐘晶片的計時誤差進行準確測試. 如果設計過程中不驗證其不同溫度下的各項性能, 在極端溫度範圍內計時精度誤差會很大, 影響到時鐘在使用中的精准度.
伯東公司美國 inTEST 時鐘晶片高低溫衝擊測試方法
通過各類測試方案對比, inTEST 可快速類比需要的測試環境, 與其他高低溫設備對比, 在時效及測試方式等方面更有優勢
型號: inTEST ATS-545-M
測試對象: 時鐘晶片
測試溫度範圍: 正常大氣壓下, 工作溫度 -40℃ 至 85℃
1. 啟動 ATS-545-M, 利用空壓機將幹燥潔淨的空氣通入製冷機進行低溫處理, 然後空氣經由外部管路到達設備內部進行升溫或降溫
2. 根據測試要求, 設置 ThermoStream ATS-545-M 為 Air 或 DUT Mode 模式, 環境可靠性測試中, 時鐘晶片通常要求的測試溫度範圍為, 正常大氣壓下, 工作溫度-40℃ 至 85℃.
3. 在測試中, 設置好需要的 Hot, Ambient 及 Cold 溫度後, 點擊 Head 按鍵, 降低玻璃罩高度, 使測試罩下降並完全罩住測試區域, 此時開始進行相應溫度段的測試.
4. ATS-545-M 顯示幕可即時監測當前迴圈衝擊氣流溫度, 而且自帶過熱溫度保護系統, 出廠設置溫度 +230°C, 操作員可根據實際需要設置高低溫限制點, 當溫度達到設置溫度時, 測試機將自動停機.
inTEST ThermoStream 系列熱流儀, 溫度衝擊範圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度：±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. 提供適用於射頻, 微波, 電子和高功率設備的溫度測試熱流儀, 滿足特性和故障分析的需求. 伯東公司作為 inTEST 中國總代理, 全權負責 inTEST 新品銷售和售後維修服務.
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