inTEST 快閃記憶體 Flash/EMMC 高低溫測試
伯東公司 inTEST - Temptronic 高低溫迴圈測試機快閃記憶體溫度測試應用
快閃記憶體(Flash Memory)，是非揮發性記憶體的一種，不需電力來維持資料的儲存，可分為 NOR Flash 以及 NAND Flash 兩種，前者用於儲存程式碼，後者用於儲存資料。快閃記憶體應用範圍涵蓋汽車電子、網際網路、記憶體、DSL 纜線數據機、數位電視、照相手機、藍芽、 GPS、工業電子…等等。
快閃記憶體溫度測試原因
為確保快閃記憶體可在極端溫度環境(例如: 油氣探勘、重工業以及航空領域)可正常實現穩健的快閃記憶體讀／寫操作功能，因此在出廠前需要進行溫度測試，inTEST - Temptronic ThermoStream 超高速高低溫迴圈測試機憑藉可測試溫度 -100 ℃ 至 +300 ℃，每秒可快速升溫或降溫 18°C，溫度精度 +-1.0℃等優勢廣泛應用於快閃記憶體製造行業。伯東公司作為 inTEST 中國地區總代理，全權負責其新品銷售和售後維修服務
快閃記憶體溫度測試方法:
通過與愛德萬 (Advantest ) 記憶體 IC 測試系統搭配之下，客戶可直接在極端溫度下測試快閃記憶體的運作特性。根據客戶實際要求，伯東公司推薦選用 inTEST ATS-545-M 高低溫迴圈測試機，並提供兩種溫度操作模式: Air mode 及 DUT mode
快閃記憶體多採用 DUT mode 即 Device under test t模式來進行高低溫迴圈測式，將快閃記憶體與 inTEST ATS-545-M 使用 T type Thermocouple 相互連接，如此即可精確掌控受測物達到機台所設定之溫度。快閃記憶體高低溫測試方法同樣適合內嵌式記憶體eMMC 溫度測試。inTEST-Temptronic thermostream 高低溫測試機可與愛德萬 advantest，泰瑞達 teradyne，惠瑞捷 verigy 工程機聯用，進行晶片高低溫迴圈測試。更詳細的高低溫測試操作方法歡迎致電 021-5046-3511
inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 創立於 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收購，成為在美國設立的超高速溫度環境測試機的首家製造商。而 Thermonics 創立於1976年，在 2012 年被 inTEST 收購，使 inTEST 更強化高低溫迴圈測試以及溫度衝擊測試領域的實力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用嶄新的研發技術發展出獨創的溫度環境測試機，將 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合進化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速溫度環境測試系列產品。伯東公司作為 inTEST 中國總代理，全權負責 inTEST 新品銷售和售後維修服務。
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