inTEST 熱流儀電源管理晶片高低溫衝擊測試
inTEST 熱流儀電源管理晶片高低溫衝擊測試
電源管理晶片由於多是在狹小空間內工作, 散熱的條件不好, 大多是在高溫的環境中長時間工作, 電源晶片經常經歷快速升溫的情況, 甚至經歷在電壓不穩時快速變溫的情況, 所以電源晶片在出廠時需要經過測試晶片在快速變溫過程中的穩定性, 這點十分重要. 伯東公司美國 inTEST ThermoStream 高低溫衝擊測試機提供 -100°C 至 +225°C 快速溫度衝擊範圍, 滿足各類電源管理晶片的高低溫衝擊測試.
在電源管理晶片可靠性測試方面, 伯東公司美國 inTEST ThermoStream ATS 系列熱流儀有著不同于傳統高低溫箱的獨特優勢:
變溫速率快, 每秒快速升溫 / 降溫18°C
通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證
即時監測待測元件真實溫度, 可隨時調整衝擊氣流溫度
針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模組), 單獨進行高低溫衝擊, 而不影響周邊其它器件
滿足研發和大規模量產要求
可與愛德萬 advantest, 泰瑞達 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等各類測試儀聯用.
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inTEST 熱銷型號 |
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溫度範圍 °C |
-75 至 + 225 |
-75至+225 |
-60 至 +225 |
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變溫速率 |
-55 至 +125°C 約 10 S |
-55 至 +125°C 約 10 s |
-40至+ 125°C < 12 s |
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空壓機 |
額外另配 |
額外另配 |
內部集成空壓機 |
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控制方式 |
旋鈕式 |
觸控式螢幕 |
旋鈕式 |
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氣體流量 scfm |
4 至 18 |
4 至 18 |
5 |
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溫度顯示和解析度 |
+/- 0.1°C |
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溫度精度 |
1.0°C（根據 NIST 標準校準時） |
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電源管理晶片高低溫衝擊測試案例: 應用於電子消費品行業的電源晶片, 下圖為實際的被測電源晶片, 焊在 PCB 板上. 需要在通電的情況下進行溫度測試.
測試溫度範圍﹣60℃ - 150℃, 進行 12組不同形式的迴圈溫度設定.
使用型號: inTEST ATS-545
電源管理晶片高低溫衝擊測試案例: 應用於汽車電子行業的電源管理晶片, 在電測試時, 同時搭配測試儀, 設定不同的溫度數值, 檢查不同溫度下電源晶片各項功能是否正常. 通過使用伯東公司美國 inTEST 熱流儀, 大幅提高工作效率, 並能及時評估研發過程中的潛在問題.
測試溫度範圍: -40℃ - 80 ℃
使用型號: inTEST ATS-710E
電源管理晶片高低溫衝擊測試案例: 應用於電力系統的電源管理晶片, 因客戶研發場地受限, 無法使用空壓機, 最終選用 ATS-535 全球唯一內部集成空壓機的高低溫衝擊機進行測試.
測試溫度範圍: -60℃ - 150 ℃
使用型號: inTEST ATS-535
電源管理晶片 Power Management Integrated Circuits 是在電子設備系統中擔負起對電能的變換, 分配, 檢測及其他電能管理職責的晶片. 在電源的設計中, 需要用到各種形式的管理晶片, 在電測試下, 隨著電源溫度的變化, 需要保證晶片的正常運轉, 一般晶片的溫度越高, 可靠度越低, 失效率就會變高. 因此在晶片的設計之初就要考慮溫度問題.
70年代成立至今, 美國 inTEST Thermal Solutions 超過 50 年的研發生產經驗, 經過多年市場實踐的高可靠性和穩定性, 滿足各類電子晶片的測試要求. inTEST 已收購 Thermonics 和 Temptronic. 伯東公司是美國 inTEST 中國總代理.
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