inTEST 熱流儀車規級晶片高低溫衝擊測試
inTEST 熱流儀車載晶片 / 車規級晶片高低溫衝擊測試
不同于傳統消費電子產品, 車規晶片前期的開發及驗證期可能長達3年, 相關研發費用和時間成本高昂, 從而需要更快地回應不斷變化的車輛架構和嚴苛的產品上市時間. 伯東公司美國 inTEST ThermoStream 熱流儀滿足汽車半導體行業更嚴格及更高效的測試要求, 可以對微控制單元 MCU, 感測器和記憶體 DRAM 等車載晶片進行快速高低溫衝擊測試, 極大節約了客戶研發成本！
.jpg)
在車規級晶片可靠性測試方面, 伯東公司美國 inTEST 高低溫測試機有著不同于傳統高低溫衝擊試驗箱的獨特優勢: 變溫速率快, 每秒快速升溫 / 降溫18°C, 即時監測待測元件真實溫度, 亦可隨時調整衝擊氣流溫度, 可針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個IC, 單獨進行高低溫衝擊, 而不影響周邊其它器件.
車規級晶片高低溫測試案例: 伯東公司客戶某半導體晶片設計公司自主研發車載晶片, 要求在溫度範圍 - 50 ℃~ 150 ℃ 時搭配類比和混合信號測試儀, 在電工作下檢查不同溫度下所涉及到的元器件或模組各項功能是否正常. 經過伯東推薦使用 inTEST 高低溫測試機 ATS-545, 測試溫度範圍 -75 至 +225°C, 輸出氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ±1℃, 通過使用該設備, 大幅提高工作效率, 並能及時評估研發過程中的潛在問題, 使產品符合汽車安全的電子產品標準!
.jpg)
車規級晶片高低溫測試方法
1. 將被測晶片或模組放置在測試治具上, 將 ATS-545 的玻璃罩壓在相應治具上 ( 產品放在治具中 ).
2. 設置需要測試的溫度範圍.
3. 啟動 ThermoStream ATS-545, 利用空壓機將乾燥潔淨的空氣通入高低溫測試機內部製冷機進行低溫處理, 然後空氣經由管路到達加熱頭進行升溫, 氣流通過玻璃罩進入測試腔. 玻璃罩中的溫度感測器可即時監測當前腔體內溫度.
4. 在汽車電子晶片測試平臺下, 高低溫測試機 ATS-545 快速升降溫至要求的設定溫度, 即時檢測晶片在設定溫度下的在電工作狀態等相關參數, 對於產品分析, 工藝改進以及批次的定向品質追溯提供確實的資料依據.
在晶片測試中, 可為測試計畫確定相應的要求, 如溫度迴圈實驗, 不同等級的溫變範圍及溫差迴圈數等. inTEST 熱流儀可根據預先設定的溫度範圍, 實現快速的溫度衝擊, 如溫度範圍 -40℃～125℃, 可分別設置低溫 -40℃, 常溫 25℃ 及高溫 125℃, 熱流儀將按照先後順序自動進行相應測試. 針對不同的測試應用, inTEST 可通過每秒快速升溫或降溫 18°C, 為車載模組或電路板中的某一單個器件提供精確且快速的環境溫度.
若您需要進一步的瞭解詳細資訊或討論, 請參考以下聯絡方式：
上海伯東: 葉小姐 臺灣伯東: 王小姐
T: +86-21-5046-3511 ext 107 T: +886-3-567-9508 ext 161
F: +86-21-5046-1490 F: +886-3-567-0049
M: +86 1391-883-7267 (微信同號) M: +886-975-571-910
qq: 2821409400
www.hakuto-vacuum.cn www.hakuto-vacuum.com.tw
現部分品牌誠招合作代理商, 有意向者歡迎聯絡上海伯東 葉小姐 1391-883-7267
伯東公司版權所有, 翻拷必究！