inTEST 熱流儀微控制器 MCU 晶片高低溫測試
inTEST 熱流儀微控制器 MCU 晶片高低溫測試
微控制器 MCU 晶片廣泛應用於消費電子 (手機, 印表機), 電腦網路, 工業控制, 醫療設備, 汽車電子以及智慧家庭等領域. 其中, 汽車是 MCU 晶片最大的應用市場, 傳統汽車單車會平均用到 70個左右, 而新能源汽車則需要用到 300多個, 應用領域包括 ADAS, 車身, 底盤及安全, 資訊娛樂, 動力系統等, 幾乎無處不在. 伯東公司美國 inTEST 高低溫測試機可以快速提供需要的類比環境溫度, 解決了因為環境受限的 MCU 晶片高低溫測試難題.
微控制器 MCU 晶片需要進行溫度測試
以工作溫度為例, 車規級要求 MCU 可承受工作溫度範圍為 -40℃ 至 105℃ 或更高, 一般工業級為 -40℃ 至 85℃, 而消費級只要保證 0℃ 至 70℃ 能正常工作即可過關, 因此消費級產品在常溫時工作狀態與工業級 / 車規產品差異不大, 但在高低溫時, 則容易出現問題, 嚴重的可能會導致整個系統停機. 因此工業級或車規級 MCU 在出廠之前需要專門針對嚴苛應用環境做針對性設計與篩查, 從而達到工業設備或汽車對於元器件高可靠與低缺陷的要求.
MCU 晶片高低溫衝擊測試案例
國內某本土 MCU 廠商從成立之初就將工控和車載作為研發方向, 經伯東公司推薦, 採用美國 inTEST ECO-710E 對其 MCU 產品進行高低溫衝擊測試, 並且滿足汽車電子協會 Automotive Electronics Council 的通用標準, 例如目前廣泛採用的積體電路失效機理的應力測試條件的 AEC-Q100.
車載 MCU 晶片的工況環境決定其溫度等級, 根據其測試標準, 晶片的溫度測試要求如下:
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MCU 晶片溫度等級 |
等級 |
工作溫度範圍 |
備註 |
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Level 0 |
- 40℃～150℃ |
最高範圍 |
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Level 1 |
- 40℃～125℃ |
一般等級 |
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Level 2 |
- 40℃～105℃ |
一般等級 |
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Level 3 |
- 40℃～85℃ |
最低範圍 |
針對客戶提出的測試要求, 伯東公司提供微控制器 MCU 晶片高低溫測試解決方案
ECO-710E 測試的溫度範圍 -80 至 +225°C, 輸出氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ±1℃, inTEST 高低溫測試機 ECO-710E 搭配 delta design 測試機共同進行微處理器晶片測試, 有效提高了晶片測試的速度和準確性, 快速進行在電工作的電性能測試, 失效分析, 可靠性評估等. inTEST 高低溫測試機的主要作用就是快速提供需要的類比環境溫度, 解決了因為環境受限的晶片高低溫測試難題.
微處理器晶片高低溫測試方法:
1. 將待測微處理器晶片放置在玻璃罩中
2. 操作員設置需要測試的溫度範圍
3. 啟動 ThermoStream ECO-710E, 利用空壓機將乾燥潔淨的空氣通入製冷機進行低溫處理, 然後空氣經由外部管路到達加熱頭進行升溫, 氣流通過熱流罩進入測試腔. 玻璃罩中的溫度感測器可即時監測當前溫度.
inTEST 熱流儀技術規格
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型號 |
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溫度範圍 °C |
-75 至 + 225 |
-75至+225 |
-80 至 +225 |
-60 至 +225 |
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變溫速率 |
-55 至 +125°C 約 10 S |
-55 至 +125°C 約 10 s |
-55 至 +125°C, ≤ 10S |
-40至+ 125°C < 12 s |
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空壓機 |
額外另配 |
額外另配 |
額外另配 |
內部集成空壓機 |
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控制方式 |
旋鈕式 |
觸控式螢幕 |
觸控式螢幕 |
旋鈕式 |
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氣體流量 scfm |
4 至 18 |
4 至 18 |
4 至18 SCFM |
5 |
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溫度顯示和解析度 |
+/- 0.1°C |
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溫度精度 |
1.0°C（根據 NIST 標準校準時） |
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電源 |
200-250VAC, 50/60Hz, 30A,1phase |
200-250VAC, 50/60Hz, 30A,1phase |
200-250VAC, 50/60Hz, 20A,1phase |
220±10%VAC, 50/60Hz, 30A |
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微控制器 MCU 在生活中的應用非常廣泛, 各種家電設備, 消費電子, 工業品和車載電子幾乎都離不開 MCU 晶片, 工業級（或車規級）MCU 與消費級 MCU 最大的區別之一是可靠性要求不同, 工業與車載應用環境對產品可靠性要求更高, 需要更高的抗靜電能力, 更高的抗浪湧電壓與浪湧電流能力, 更寬的工作溫度範圍, 以及更長的壽命.
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