最新消息
No. | 新聞標題 | 日期 | 閱讀數 |
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1 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP140 濺射沉積半導體 IGZO 薄膜 | 2021-02-25 | 0 |
2 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於胎壓感測器測漏 | 2021-02-25 | 0 |
3 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP380 鍍制紅外器件 ZnS 薄膜 | 2021-02-24 | 0 |
4 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASI35 用於汽車燃油箱測漏 | 2021-02-24 | 0 |
5 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 濺射沉積鈦金屬薄膜 | 2021-02-23 | 0 |
6 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM182TD+ 用於光無源器件測漏 | 2021-02-23 | 0 |
7 | KRI 考夫曼射频离子源 RFICP380 成功用于多靶磁控溅射镀膜机 | 2021-01-22 | 0 |
8 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於熱管測漏 | 2021-01-22 | 0 |
9 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 濺射沉積 MoN 薄膜 | 2021-01-21 | 0 |
10 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於焊接容器測漏 | 2021-01-21 | 0 |